● 为小晶片电阻设计。（低测试能）

● 超高测试速度：0.7毫秒/次

● 自动消除热电动势影响，高精度高稳定性。

● 逻辑电路与数字电路隔离设计，防止电路噪声干扰，测试结果高稳定性

● 测试范围 绝对值：0.00mΩ~200.00MΩ

                            % ：10mΩ~109MΩ[±99.99%]

● 可选C-E功能，测试前检测或测试后检测。亦可不选连接检测功能

● 检测当前的电压电流是否正常